METROTOM系統(tǒng)
在此之前不能檢測或者只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現在用斷層掃描分析可以快速明確地檢測出誤差。
測量技術的革命
Metrotomography融合了計量學和層析X射線攝影法，開創(chuàng)了不可預期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質量保證的場合，現在可以進行高精度和無損測量。
斷層掃描分析如同在工件內部測量：所有采集的數據可用于質量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術，例如：裝配檢查，損傷和氣孔分析，材料檢驗或損壞檢查，如同測量評估，逆向工程應用或幾何比較一樣。
重要特征
METROTOM采用了深思熟慮的設計，它的3D計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器，同時還裝備了用于裝夾工件的轉臺和Zeiss的移動系統(tǒng)。METROTOM還具有安全技術。其擁有全防護的測量間，并且符合DIN 54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例(0.5mr/h在外罩)。同時，機器是基于人機工程學優(yōu)化設計的（專用的上料位置）。
ZEISS旋轉臺，配有直接驅動 高敏感性的探測系統(tǒng)
久經考驗的線性技術
自加工的精密機械組件
導軌誤差補償（CAA計算機輔助精度修正）
Zeiss原裝旋轉臺，配有直接驅動
自產的氣浮軸承
分辨率：0.036˝
最大負載（中心）：500N
傳感器：微焦源X射線管
高電壓：10 – 225 keV
電子管電流：5 – 3000 μA
目標功率：320 W max.
反射角：50°錐角
有功發(fā)射角：30°錐角
焦點尺寸：> 7 μm平板式探測器
帶有高敏感性的探測系統(tǒng)
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三維CT
數字式無線電復制，形象逼真
