CCI MP是一種高級(jí)的測(cè)量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）。 它采用享有專利的新型關(guān)聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。
CCI MP對(duì)于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用。 轉(zhuǎn)臺(tái)上可以同步裝配各種各樣的標(biāo)的物，因而可測(cè)量多種類型的表面。 全自動(dòng)的工作臺(tái)和自動(dòng)測(cè)量程序進(jìn)一步增強(qiáng)了測(cè)量的靈活性。
CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)就是功能多、用途廣。 反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺(tái)階面，都能使用一種算法進(jìn)行測(cè)量，不需要為不同的表面改變模式，也不用擔(dān)心會(huì)選擇錯(cuò)誤的模式。 可測(cè)量的材料類型包括： 玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
