趙施奈德博士測量技術(shù)三座標(biāo)測量儀專門為大型重型精密工件測量所設(shè)計(jì)。該系列儀器主要結(jié)構(gòu)均採用花崗巖材料製成。較金屬材質(zhì)相比花崗巖的物理性質(zhì)穩(wěn)定，具有低熱膨脹系數(shù)，高鋼性，無銹蝕等特徵，并且可以非常精密地加工。
趙施奈德博士測量技術(shù)三座標(biāo)測量儀根據(jù)結(jié)構(gòu)可以有如下分類：懸臂式（Easy Touch 系列），橋式（BKM 系列）以及移動(dòng)龍門式（Numan 系列）。每種機(jī)型均專門針對不同應(yīng)用領(lǐng)域而設(shè)計(jì)，適用於不同重量，形狀和尺寸的工件的精密測量。所有趙施奈德博士測量技術(shù)的機(jī)型本身機(jī)體重量較大，從而保證了足夠的抗震動(dòng)性和超高的重復(fù)精度。
趙施奈德博士測量技術(shù)所有三座標(biāo)測量儀均裝配有施奈德測量技術(shù)專用 3D 座標(biāo)測量軟體 SAPHIR，該軟體屬於世界上最優(yōu)秀的座標(biāo)測量軟體。SAPHIR 除具有普通3D 座標(biāo)測量軟體的功能外，還能夠提供針對不同觸探系統(tǒng)的管理。探針均已經(jīng)在出廠時(shí)經(jīng)過校驗(yàn)，在通過軟體調(diào)用時(shí)，無需再次校驗(yàn)，可以直接應(yīng)用於測量。由於 SAPHIR 軟體對各類探針的完美管理功能，不同探針在之前已經(jīng)經(jīng)過校準(zhǔn)，因此在測量過程中不同的探針可以對同一元素組合使用。
趙施奈德博士測量技術(shù)標(biāo)配的三座標(biāo)測量儀配有高精度觸發(fā)式觸探測量系統(tǒng)，如 Renishaw TP200。另外還可選配掃描式觸探測量系統(tǒng)，如 Renishaw SP25。特別在與 SAPHIR 的結(jié)合下，掃描式觸探測量系統(tǒng)可以掃描并數(shù)位化工件的未知輪廓。
此外，除了標(biāo)配觸探系統(tǒng)外，趙施奈德博士測量技術(shù)三座標(biāo)測量儀還可配有具有影像處理功能的光學(xué)觸探系統(tǒng)（選配）。光學(xué)觸探系統(tǒng)通常由高解析度黑白面感應(yīng) CCD 攝像機(jī)，高品質(zhì)遠(yuǎn)焦平場放大鏡頭，以及通過軟體獨(dú)立可控的16 分區(qū)長壽命 LED 表面光源組成。各類工件的輪廓及表面結(jié)構(gòu)等在使用接觸式觸探系統(tǒng)所未能進(jìn)行的測量（如工件由橡膠或塑膠製成），在使用選配的光學(xué)觸探系統(tǒng)測量時(shí)均能夠達(dá)到測量要求。
3D 座標(biāo)測量軟體 SAPHIR 是世界少有的幾個(gè)可以將旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)角度加入空間座標(biāo)計(jì)算的測量軟體。因此趙施奈德博士測量技術(shù)三座標(biāo)測量儀在裝備了旋轉(zhuǎn)軸之后也適用於軸類工件的精密測量，如曲軸、凸輪軸等。
