SBI Mechatronik GmbH總部位于奧地利維也納郊外的霍拉布倫，20多年來(lái)一直致力于為塑料擠出行業(yè)的應(yīng)用開(kāi)發(fā)、制造和銷(xiāo)售高性能的測(cè)量和控制系統(tǒng)。多種測(cè)量技術(shù)（涵蓋電容測(cè)厚、低功率X射線測(cè)厚、激光投影測(cè)厚、三角激光測(cè)厚）和廣泛的軟件包可用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、測(cè)量和控制厚度均勻性和匹配模頭配置。確保了最佳的生產(chǎn)條件和高成本效益。
本期我們將重點(diǎn)介紹奧地利SBI 電容測(cè)厚的差異性能！
在線厚度測(cè)量
在線測(cè)厚儀主要通過(guò)連續(xù)顯示所生產(chǎn)薄膜或片材的橫向厚度分布，在生產(chǎn)過(guò)程中提供質(zhì)量控制可見(jiàn)性。這為操作人員提供了即時(shí)建議，以實(shí)現(xiàn)盡可能?chē)?yán)格的產(chǎn)品公差，與產(chǎn)品質(zhì)量和最小的原材料使用量。由于操作人員還有其他任務(wù)需要不斷監(jiān)測(cè)厚度分布，因此通常只有在測(cè)量?jī)x發(fā)出警報(bào)時(shí)才會(huì)進(jìn)行干預(yù)。或者，通過(guò)選擇自動(dòng)分布控制（APC），結(jié)合自動(dòng)模頭，通過(guò)測(cè)厚系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)節(jié)厚度分布偏差，確保其保持在預(yù)設(shè)的控制范圍內(nèi)，從而確保薄膜/片材的均勻厚度分布。
此外，厚度優(yōu)化的薄膜提高了后續(xù)加工的效率。例如，在熱成型系統(tǒng)中，設(shè)置過(guò)程及其生產(chǎn)速度在很大程度上取決于薄膜的厚度分布。這同樣適用于印刷、轉(zhuǎn)換和其他加工方法和改進(jìn)。
可視化
圖1舉例說(shuō)明了測(cè)厚儀HMI的可視化。上部顯示厚度分布，下方是螺栓狀態(tài)圖，與平模上的唇緣調(diào)整螺栓相關(guān)。優(yōu)化生產(chǎn)過(guò)程中的原材料使用并確保產(chǎn)品在所有加工步驟的質(zhì)量和可用性是至關(guān)重要的。操作人員可以根據(jù)螺栓圖立即確定哪些螺栓需要調(diào)整以保持所需的公差。這在啟動(dòng)和材料/產(chǎn)品更改（寬度和/或厚度調(diào)整）期間尤其有價(jià)值，可以節(jié)省寶貴的生產(chǎn)時(shí)間并減少?gòu)U料。
圖1
SBI - KAPA 測(cè)厚儀- 片材行業(yè)的測(cè)厚最佳選擇
圖2：SBI KAPA 非接觸式測(cè)厚儀
SBI 全球成功的KAPA系統(tǒng)適用于厚度達(dá)3mm（KAPA II：最大至6mm），寬度達(dá)9m的薄膜/片材，傳感器測(cè)量精度≤0.1μm，采用電容式和渦電流式雙傳感器測(cè)量，無(wú)射線環(huán)保安全，不受膜片材料密度、添加劑、厚度增大變化影響測(cè)量精度，一鍵式校準(zhǔn)。
測(cè)量原理是基于非接觸、間接的厚度測(cè)量原理，采用雙傳感器配置和導(dǎo)輥。這種極其堅(jiān)固的傳感器組合在一個(gè)外殼中，具有電容式和渦流式雙傳感器，區(qū)別于市面上目前常用的X射線測(cè)量方式。SBI KAPA測(cè)量基本原理是：簡(jiǎn)單的說(shuō)，通過(guò)電容傳感器與渦電流傳感器，檢測(cè)到傳感器至導(dǎo)輥的距離，以及傳感器至膜片材膜面的距離兩者之差即為膜片材厚度；由此帶來(lái)的特點(diǎn)：不受膜片材材料密度變化/物料添加劑/填充劑，包括回收料的添加量，不同顏色，比如鈦白粉添加/鈦酸鈣的添加等影響，始終保持一致的測(cè)量精確性。KAPA應(yīng)用范圍廣泛，包括：擠出單層和多層塑料薄膜和片材、熱成型片材（PP、PE、PET、PS、ABS、PVC等）。KAPA是一種簡(jiǎn)單的產(chǎn)品概念，但在市場(chǎng)上非常受歡迎，取得了巨大的成功，并且它是一種非放射性技術(shù)，完全環(huán)保的技術(shù)，零輻射；基于非放射性技術(shù)，當(dāng)然就不存在衰減，無(wú)傳感器使用損耗。
SBI - KAPA IR 測(cè)厚儀- 總厚度與高阻隔層的最佳測(cè)厚選擇
圖3：SBI KAPA IR
針對(duì)于食品包裝高阻隔片材應(yīng)用的測(cè)厚，厚度的測(cè)量以及阻隔層厚度的測(cè)量尤為關(guān)鍵。SBI提供了KAPA IR 測(cè)厚方案，用于檢測(cè)片材的總厚度與阻隔層的單層厚度（EVOH/PA等）。工作的原理：片材總厚度同樣基于KAPA 電容式測(cè)厚；阻隔層厚度測(cè)量基于IR（紅外）技術(shù)，完美實(shí)現(xiàn)厚度的精確測(cè)量。詳細(xì)請(qǐng)更多聯(lián)系我們。
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結(jié)論
在擠出系統(tǒng)中集成在線測(cè)厚儀是實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制、原材料節(jié)約和生產(chǎn)優(yōu)化的關(guān)鍵一步。對(duì)厚度分布的精確監(jiān)測(cè)不僅可以遵守最高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)（避免超差以及確保產(chǎn)品品質(zhì)），還可以通過(guò)高效的生產(chǎn)過(guò)程（減輕操作人員的負(fù)擔(dān)）和最大限度地減少原材料消耗來(lái)提供經(jīng)濟(jì)效益（節(jié)省成本）。此外，將薄膜和片材（熱成型、印刷等）加工成最終產(chǎn)品的品質(zhì)與效率顯著提高。
