2011年9月7日至9月9日，由國家納米科技指導協(xié)調委員會主辦，在科技部、教育部、國家自然科學基金委員會、中國科學院、中國科學技術協(xié)會等單位的大力支持下，國家納米科學中心承辦的2011年中國國際納米科學技術會議(China Nano 2011) 在北京國家會議中心勝利召開。此會議作為中國納米科技領域最大規(guī)模的國際型會議，是繼2005、2007、2009三屆后，第四次成功舉辦。中國科學院院長、國家納米科技指導協(xié)調委員會副主任白春禮擔任本次大會主席，并致辭。有來自全世界40多個國家的1000余名代表參加。
在為期3天的會議中，雷尼紹公司以展臺的形式，展示了inVia系列新型共聚焦顯微拉曼光譜儀的優(yōu)勢和特點，以及在納米材料研究方面的應用，其中包含碳納米材料，表面增強/針尖增強等。
雷尼紹公司本著盡可能的滿足各領域研究人員的不同需求的原則，不斷創(chuàng)新科技，開發(fā)各種不同聯(lián)用技術。如拉曼與原子力顯微鏡的聯(lián)用（AFM-Raman），拉曼與掃描電鏡的聯(lián)用（SEM-Raman）等。目前，雷尼紹公司的inVia系列拉曼光譜儀已成功與多家原子力顯微鏡進行聯(lián)用，如Vecco， Nanonics，NT-MDT等知名原子力顯微鏡廠商，在國內(nèi)也已有成功案例。此外，我公司的結構與化學成分分析儀（SCA），將電子掃描顯微鏡和拉曼光譜這兩種成熟的技術結合在一起，實現(xiàn)了獨創(chuàng)的微區(qū)原位檢測的強大技術，即不必在不同儀器之間移動樣品，就可對同一點樣品的形貌、元素、化學成分、物理及電子學特性等進行分析。
在技術創(chuàng)新的同時，雷尼紹還不斷提高儀器性能。繼大面積快速連續(xù)掃描 (StreamLineTM) 專利技術后，今年推出升級的最新高分辨大面積快速連續(xù)掃描（StreamLineHRTM)。StreamLineHR保持了StreamLine掃描成像速度的同時， 達到了光學檢測最高的空間分辨率（衍射極限），使inVia顯微拉曼在納米科學技術方面有更具吸引力的應用前景。
中國科學院院長、China Nano 2011大會主席白春禮院士致開幕詞
雷尼紹公司展臺
